電磁兼容測(cè)試,電磁兼容檢測(cè)報(bào)告,EMC電磁兼容試驗(yàn)判據(jù),電磁兼容試驗(yàn)性能判據(jù)
性能判據(jù)A
試驗(yàn)時(shí)，在規(guī)范限值內(nèi)性能正常。
示倒：如果要求電子設(shè)備工作可靠性高，則受試設(shè)備工作時(shí)性能不應(yīng)有偏離制造商所規(guī)定的技術(shù)規(guī)范的明顯降級(jí)。
6．4．2性能判據(jù)B
試驗(yàn)時(shí)，功能或性能暫時(shí)降低或喪失，但能自行恢復(fù)。
示例l：數(shù)據(jù)傳送用奇偶校驗(yàn)或通過(guò)其他方法來(lái)控制和校驗(yàn)。例如由雷擊等類似原因引起出錯(cuò)時(shí)，數(shù)據(jù)傳送將自動(dòng)
重復(fù)，這時(shí)降低的數(shù)據(jù)傳送速率是可以接受的。
示例2：試驗(yàn)時(shí)，模擬功能數(shù)值可出現(xiàn)偏差。試驗(yàn)后，偏差消失。
示例3：在一個(gè)監(jiān)視器只用于人一機(jī)監(jiān)視時(shí)，出現(xiàn)某些短時(shí)間的性能下降是可以接受的，例如在施加脈沖群時(shí)出現(xiàn)
闋爍。
性能判據(jù)c
試驗(yàn)時(shí)，功能或性能暫時(shí)降低或喪失，但需要操作者干預(yù)或系統(tǒng)復(fù)位。
示例1：當(dāng)主電源的中斷比規(guī)定的緩沖時(shí)間要長(zhǎng)時(shí)，設(shè)備的供電單元被切斷。供電電源的接通可以是自動(dòng)的或由操
作者進(jìn)行。
示例2：在騷擾引起程序中斷后，設(shè)備的處理器功能應(yīng)停在規(guī)定位置，并且不會(huì)處于崩潰狀態(tài)?？赡苄枰o出提
示，以讓操作者做出判定。
示例3：試驗(yàn)導(dǎo)致過(guò)流保護(hù)裝置斷路，由操作者更換或復(fù)位該過(guò)流保護(hù)裝置。